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              X射線探測器系列化

              X射線探測器系列化

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              線性探測器
                正比探測器、閃爍探測器
                使用時需要配置單色器,有效去掉Kβ線。
                最大線性計數:≥5×105CPS
                能譜分辨率:正比≤25%、閃爍≤50%。

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              SDD硅漂移探測器
                使用時不需要配置單色器,最大線性計數:≥1.5×105CPS、能譜分辨率≤200eV,較線性探測器,樣品測量速度提高4倍以上,可實現高分辨率X射線衍射測量。

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              高速一維陣列探測器
                由640個探測器組成的一維半導體陳列探測器,相比傳統的閃爍或正比探測器可以提高衍射強度120倍以上,在較短時間內,獲取高靈敏度、高分辨率完整的衍射譜圖,并且還有非常好的去熒光能力,即使是測量強熒光的樣品,一維半導體陳列探測器提供的數據也展示出非常好的信噪比。
                最大線性計數:≥9×109CPS,能譜分辨率:≤25%;有高計數模式及去除熒光背景兩種工作模式。


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